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数字IC后端设计实现OCC(On-chip Clock Controller)电路介绍及时钟树综合案例

news 来源：原创 2025/9/15 20:56:02

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数字IC后端时钟树综合专题（OCC电路案例分享）

复杂时钟设计时钟树综合(clock tree synthesis)常见20个典型案例

1、什么是OCC？
片上时钟控制器(On-chip Clock Controllers ，OCC)，也称为扫描时钟控制器(Scan Clock Controllers，SCC)。OCC 是插在SoC上的逻辑电路。在ATE（自动测试设备）上对芯片做ATPG测试时，OCC用于控制内部scan flip-flop时钟。

OCC电路可以实现ate clock和function clock之间的切换，并且控制在什么时刻跳转。所以standard的OCC在设计时需要拥有三个主要功能：clock selection, clock chopping control and clock gating。

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2、OCC的架构及功能
这里我们会介绍一下Synopsys的OCC 1.0 ，Synopsys的OCC定义了多个输入输出端口：

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-OCC的基本逻辑

下图显示了one-single clock OCC的概念操作，未显示电路实现细节，本文目的是演示它是如何工作的。
当OCC处于function mode时，test mode = 0，此时pll _clk选通，OCC会向内部 design输入function clock，此时可以将OCC电路视为transparent。

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当OCC处于shift mode时，我们在ate clock的控制下将测试向量load进internal scan chain和clock chain内，所以test mode = 1，scan_en = 1，此时ate _clk选通，完成shift操作。

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OCC的shift mode

Synopsys的OCC 1.0 没有真正的slow capture mode，需要做stuck-at 测试时，可以直接从ATE机台提供OCC bypass mode capture clock。通过外部ATE机台对ate clock的pulse进行适当的控制就可以进行stuck-at测试，不需要clock chain的控制。此时test mode = 1，pll_bypass = 1。

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OCC的bypass mode

当OCC处于fast capture mode时，期望在capture阶段生成两个function clock脉冲。所以test mode = 1，scan_en = 0，pll_bypass = 0，此时pll _clk选通，并且PLL cycle counter 和clock chain的输出经过ICG共同决定gating几个时钟脉冲，完成at-speed测试。

OCC的fast capture mode
Fast capture mode的波形图如下图所示，下面我们来简单地分析一下。

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Fast capture mode波形图

当我们进行capture操作时，scan enable信号要从1变为0，为了保证得到的是稳定的0信号，我们需要先经过sync cell的3个synchronization cycles。
通过先前shift过程中load在clock chain里的test pattern（0110）以及PLL cycle counter的共同控制，在第2、3个cycle给出两个pulse，即launch和capture。
最后scan enable信号从0变为1，完成capture的操作，进入shift过程。
需要注意的是，对于Synopsys的OCC，Scan_en = 1后，ate clock在第二个pulse才出现，此过程被称为pre_shift 。

介绍完OCC电路的结构和工作模式后，我们来看看一个包含OCC设计的时钟树综合。一般来说这个电路在长clock tree阶段不做特殊处理，func clock的时钟树会被拖得比较长。

下图所示为典型OCC电路的时钟结构（本次复杂时钟clock gen训练营新增案例）。欢迎大家来讨论应该如何长clock tree? 如果直接让工具自动做clock tree，通常会遇到哪些问题？

ON CHIP Controller电路时钟树综合

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